电子元器件失效分析与检测
电子元器件失效分析与检测
电子元器件失效分析与检测
失效分析在产品的可靠性质量保证和提高中发挥着重要作用，在产品的研发、生产、使用中都需要引入失效分析工作。SOAR失效分析实验室作为SOAR一站式服务的重要组成部分，拥有一支经验丰富、技术精湛的服务团队，各种先进的检测、分析仪器，可以为客户提供高效、准确、公正的检测、分析服务。
电子元器件检测的意义:
1. 元器件厂: 获得改进产品设计和工艺的依据；
2. 整机厂: 获得索赔、改变元器件供货商、改进电路设计、改进电路板制造工艺、提高测试技术、设计保护电路的依据；
3. 整机用户: 获得改进操作环境和操作规程的依据,提高产品成品率和可靠性，树立企业形象，提高产品竞争力。
失效分析技术的延伸应用:
1. 进货分析的作用: 选择优质的供货渠道，防止假冒伪劣元器件进入整机生产线；
2. 良品分析的作用: 学习先进技术的捷径。
电子元器件的工艺适用性评价:
1. 回流敏感度测试依据标准J-STD 020包括温湿度处理以及回流焊；
2. 可焊性测试；
3. 金属层耐溶解性试验；
4. 耐焊接热试验。
电子元器件的常规检测:
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1. 开封 |
17. 引线键合强度 |
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2. 取晶粒 |
18. 芯片粘结强度 |
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3. 芯片层次去除 |
19. 背面研磨 |
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4. 去金凸块 |
20. TEM |
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5. 染色 |
21. EELS |
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6. 高解析度显微拍照 |
22. AFM |
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7. BGA(PCB)&IC电路提图服务 |
23. C-AFM |
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8. 扫描电镜检查 |
24. SIMS |
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9. 高/低阶制成定点横截面切割 |
25. TOF-SIM |
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10. EMMILC 液晶热点侦测 |
26. AES |
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11. OBIRCH 应用 |
27. XPS |
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12. 静电放电(ESD)测试 |
28. XRD |
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13. 探针应用 |
29. STEM |
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14. LCR应用 |
30. FIB-线路修补 |
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15. I-V曲线量测 |
31. X射线透视检查 |
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16. 激光切割 |
32. 超声波扫描检查(C-SAM) |
